
产品分类
Products
更新时间:2021-03-01
浏览次数:3034
物体表面粗糙度是对测量光斑产生干扰的重要因素,在对光泽金属表面的测量中,尤其会出现这种亚微米级的干扰现象,从而增加了测量工作的难度。
激光投线式产品系列(激光Line)可有效消除上述干扰。首先通过特型光镜,测量光斑被扩展为椭圆线型,然后凭借光学均值法计算,使光泽金属表面所引发的干扰得到有效过滤,从而确保了的测量值。激光投线式产品系列(LL)同样适用于测量粗糙以及带纹路的表面,其位移输出信号可清晰反映被测表面的形状变化。
optoNCDT LL配有集成内置控制器,是自动化技术领域应用的很好的选择。传感器的安装简便,不需要特殊定位。
Micro Epsilon激光位移传感器ILD2300-2技术参数:
线性量程:2(2)mm
量程起点SMR:24(24)mm
量程中点MMR: 25(25)mm
量程终点EMR: 26(26)mm
误差:≤士0.03%全量程
光源:半导体激光(670nm)2级
防护级别:IP65
使用温度:0...+50℃
仓储温度:-20..+70℃
信号输入/输出:
Ethernet/EtherCAT
RS422
通过CSP2008可输出模拟信号
抗电磁干扰(EMC):
EN61326-1:2006-10
DIN EN 55011:2007-11(组别1,B级)
EN 61000-6-2:2006-03
抗振性能:2g/20...500Hz
抗撞击性:15g/6ms/3轴
ILD2300-2
ILD2300-5
ILD2300-10
ILD 2300-20
ILD2300-50
ILD2300-100
ILD2300-200